XRD，即X射线衍射，是一种用于研究材料结构和性质的常用分析技术。它基于布拉格方程式，即2dsinθ=nλ，其中d为晶格间距，θ为入射角度，λ为X射线波长，n为整数。通过测量不同角度下的衍射强度和晶格间距，可以推断出样品的晶体结构、晶格常数、晶粒大小等信息。

XRD分析测试的基本步骤如下：

1.样品准备：选择适当的方法将待测样品制成粉末，并将其均匀分布在支持器上。

2.X射线发射：使用X射线发生器发射一束高能X射线，其波长在0.1-10纳米之间。

3.衍射：X射线照射到样品上，与样品的原子相互作用，产生衍射。衍射角度θ可以通过测量X射线照射到样品后的偏转角度得到。

4.信号收集：使用探测器收集衍射信号，并将其转换为电信号。

5.数据处理和分析：使用计算机软件对收集到的数据进行处理和分析，包括背景消除、峰形拟合、晶格常数计算、晶粒大小计算等。

6.结果解释和报告：根据数据处理和分析的结果，解释样品的晶体结构和性质，并撰写报告。

XRD分析测试具有快速、准确、无损等优点，广泛应用于材料科学、化学、物理学、生物学等领域。